JAPから気になる論文を見つけました。
Unexpected size effect in the thermopower of thin-film stripes
金属薄膜を数十μm以下の幅にすると、ゼーベック係数が明確に小さくなるそうです。キャリア散乱の平均自由行程より何桁も大きいスケールでこういうことが起こるのは予想外ですが、半導体ナノワイヤーでもかつて加工のためのダメージなどで実験結果に統一性がなくなるという議論がありましたから、どうなんでしょうか?
もしこれが正しいとして、よりキャリアの局在性が強い有機導体/半導体ではこのようなことが起こりにくいと予想されますが、はたしてどうなるか。
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